2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁(yè)
已閱讀1頁(yè),還剩74頁(yè)未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、本文采用了新穎的常壓化學(xué)氣相沉積(APCVD)的方法,以 SiH4和TiCl4為反應(yīng)前驅(qū)體,N2氣作為稀釋氣體和保護(hù)氣體,在玻璃基板上先沉積生成Ti5Si3薄膜層,然后在誘導(dǎo)薄膜層基礎(chǔ)上以熱氧化法自誘導(dǎo)生長(zhǎng)出了高密度的單晶TiO2納米線。摸索了反應(yīng)參數(shù)(沉積溫度、沉積時(shí)間、反應(yīng)總氣流量以及Si/Ti摩爾比)對(duì)TiO2納米線結(jié)構(gòu)和性能的影響規(guī)律,并對(duì)生長(zhǎng)機(jī)制進(jìn)行了討論。本課題研究表明:
  (1)采用自誘導(dǎo)APCVD法在玻璃基板上成

2、功地制備了高密度的單晶TiO2納米線,誘導(dǎo)層薄膜為六方結(jié)構(gòu)的Ti5Si3相。納米線長(zhǎng)約0.5-2μm,直徑20-40nm左右,長(zhǎng)徑比超過25。所制備的TiO2納米線為四方晶系的金紅石相,納米線的生長(zhǎng)是垂直于其(110)面的[001]方向,由薄膜層開始向上生長(zhǎng),此過程可以稱之為自誘導(dǎo)生長(zhǎng)。
 ?。?)Ti5Si3薄膜層上TiO2納米線的晶相結(jié)構(gòu)和表面形貌受制備工藝條件(沉積溫度、沉積時(shí)間、反應(yīng)總氣流量以及Si/Ti摩爾比)的影響。沉

3、積溫度越高,TiO2納米線成核驅(qū)動(dòng)力越大,其成核和生長(zhǎng)速率快,從而導(dǎo)致其結(jié)晶度和密度越大,且長(zhǎng)度越長(zhǎng),長(zhǎng)徑比越大。720℃為最佳的沉積溫度,此時(shí) TiO2晶相含量最高,Ti5Si3薄膜層上有濃密的納米線生成,長(zhǎng)度約0.5-2μm,直徑20-40nm。
 ?。?)沉積時(shí)間主要是影響 Ti5Si3薄膜層的厚度與結(jié)晶度,再對(duì)下一步自誘導(dǎo) TiO2納米線的形成產(chǎn)生影響。隨著沉積時(shí)間增加,玻璃表面形成的Ti5Si3薄膜層厚度增加、顆粒尺寸減

4、小、排列分布平整致密、比表面積增大,氧原子與鈦原子接觸反應(yīng)的幾率變大,誘導(dǎo)形成的TiO2晶相含量增加,生長(zhǎng)出較長(zhǎng)和較大長(zhǎng)徑比的納米線。
  (4)反應(yīng)總氣流量的變化會(huì)影響噴頭處的氣流速度以及單位體積內(nèi)反應(yīng)氣體中SiH4和TiCl4的濃度,從而影響Ti5Si3薄膜層的結(jié)晶程度及表面形貌和TiO2納米線的誘導(dǎo)生成。隨著反應(yīng)總氣流量的增大,氣體流速變大,反應(yīng)沉積速率以及原子的擴(kuò)散速率增加,使得Ti5Si3薄膜層有足夠的時(shí)間結(jié)晶,致密度增

5、加,有利于進(jìn)一步自誘導(dǎo)生成TiO2納米線,從而TiO2晶相含量的增加及生長(zhǎng)出較高密度和長(zhǎng)徑比的納米線。但當(dāng)總氣流量過大時(shí)(2000sccm)時(shí),氣流速度太快,使得噴頭與玻璃基板間產(chǎn)生氣流紊亂區(qū),不利于Ti5Si3的成核生長(zhǎng),樣品成非晶態(tài),無TiO2納米線的生成。
  (5)反應(yīng)Si/Ti摩爾比是控制硅化鈦誘導(dǎo)薄膜層中Ti5Si3晶相的形成的根本因素,進(jìn)而影響TiO2納米線的自誘導(dǎo)生成,最佳生成Ti5Si3晶相的Si/Ti摩爾比為1

6、,此時(shí)Ti5Si3結(jié)晶度好且晶相含量高,誘導(dǎo)生成的TiO2納米線細(xì)長(zhǎng)濃密。
 ?。?)通過實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn),TiO2納米線的光催化性能和親水性能隨TiO2的表面形貌、晶粒大小(比表面積)、晶相結(jié)構(gòu)及含量的改變而改變。結(jié)晶度高,TiO2晶相含量高,比表面積大,生長(zhǎng)濃密的納米線表現(xiàn)出最佳的光催化活性,對(duì)亞甲基藍(lán)溶液的光催化降解率最高可達(dá)80%,同時(shí)其也更有利于水滴的鋪展,親水性更好。
 ?。?)制備的樣品表面形成的TiO2/Ti5Si3

7、復(fù)合薄膜體系表面出優(yōu)異的電學(xué)性能,方塊電阻低,導(dǎo)電性好,方塊電阻最小值為0.723?/sq。結(jié)果表明:樣品表面的方塊電阻除了與 TiO2與 Ti5Si3晶相種類和含量有關(guān),還極大地取決于其表面形貌(堆積密度、顆粒尺寸及分布排列),樣品表面的致密度越大,顆粒尺寸越小,排列分布均勻,則單位厚度上所含的TiO2與 Ti5Si3晶相數(shù)量越多,從而其導(dǎo)電性越好。
  總之,本方法對(duì)設(shè)備要求低,效率高,產(chǎn)量大;可以在各種固態(tài)基板上方便制備氧化

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論