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文檔簡介
1、該論文的目的在于對讀出電路的噪聲進(jìn)行分析,并且采取一定的措施,使我們所設(shè)計的讀出電路的噪聲能滿足設(shè)計要求.所采取的研究方法是先對SFD型讀出電路中元件MOS管的1/f噪聲和溝道熱噪聲進(jìn)行分析,然后針對讀出電路的結(jié)構(gòu)分析其產(chǎn)生的KTC噪聲,最后分析由于工藝方面的原因產(chǎn)生的固定圖形噪聲.并且通過對讀出電路的不同噪聲種類的產(chǎn)生來源的分析來采取相對應(yīng)的降噪措施.最后通過PSPICE軟件仿真來計算出作者所設(shè)計的SFD型讀出電路的等效輸入噪聲,用以
2、驗證我所設(shè)計的讀出電路能否滿足設(shè)計要求.CMOS讀出電路中的噪聲嚴(yán)重地制約了讀出電路的性能優(yōu)劣,進(jìn)而影響到紅外焦平面陣列甚至成像系統(tǒng)的性能.在CMOS讀出電路的外部降噪技術(shù)方面,我主要是對雙采樣降噪電路作了一定的研究.對SFD型讀出電路和DI型讀出電路分別采用了兩種不同結(jié)構(gòu)的雙采樣電路,并且用PSPICE對它們都作了仿真,其雙采樣電路對DI型讀出電路的固定圖形噪聲有比較好的降噪效果.在該論文的最后對SFD讀出電路的16×16試驗電路芯片
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