絕緣子串在污穢分布不均勻時(shí)的污閃特性及閃絡(luò)機(jī)理研究.pdf

1、線路絕緣子污閃事故是電力系統(tǒng)運(yùn)行故障的主要原因之一。國內(nèi)外對等值鹽密(PESDD)與染污絕緣子交流閃絡(luò)電壓(Uf)之間的關(guān)系進(jìn)行了大量的研究，但對灰密(PNSDD)的影響以及對PESDD和PNSDD共同作用下的閃絡(luò)特性研究則相對較少；目前所做的人工污穢試驗(yàn)都是以改變污穢等級、濕度來研究變化，而對于不同分布的污穢對絕緣子污閃電壓的影響缺乏了解。
　　 本文在總結(jié)國內(nèi)外現(xiàn)有研究成果的基礎(chǔ)上，從現(xiàn)場問題出發(fā)，以普通懸式瓷絕緣子(XP-

2、4.5)為試品，依照IEC 60507-1991版《交流系統(tǒng)用高壓絕緣子的人工污穢試驗(yàn)》規(guī)程，采用固體層法對絕緣子進(jìn)行人工污穢試驗(yàn)，用小球間隙法進(jìn)行絕緣子串分布電壓測量。文中主要研究了絕緣子串在污穢不同程度、不同分布時(shí)的污閃特性和不同濕度、溫度下的電壓分布的不同規(guī)律，驗(yàn)證了污穢分布不均勻時(shí)閃絡(luò)電壓有可能降低，電壓分布存在新的規(guī)律，最后通過理論研究和對試驗(yàn)結(jié)果分析，得出了絕緣子閃絡(luò)電壓降低的影響因素和相關(guān)擊穿機(jī)理。
　　 鑒于現(xiàn)場

3、線路中出現(xiàn)了輕污穢情況下比重污穢的閃絡(luò)電壓低的現(xiàn)象，而國內(nèi)在這方面還沒有較系統(tǒng)的研究報(bào)告。本文對現(xiàn)場某些特殊的污穢情況進(jìn)行模擬，研究得出單片絕緣子污閃電壓高低與其污穢面大小成反比，下表面污穢對絕緣子污閃電壓降低的影響最大；多片絕緣子串污閃電壓與其污穢分布有很大聯(lián)系，絕緣子串受氣候條件影響某個(gè)方向積污較重的情況下首末端分擔(dān)的電壓比例將減??；垂直懸掛的絕緣子串受其受本身結(jié)構(gòu)影響上表面外環(huán)積污較重，尾端分擔(dān)電壓最大。本文從實(shí)際問題出發(fā)，并對后