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1、隨著電子產(chǎn)品的快速普及,電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和制造技術(shù)也在不斷發(fā)展。但是,目前從產(chǎn)品設(shè)計(jì)到正式投產(chǎn)的過程中,需要投入大量的人力物力,修正設(shè)計(jì)方案、試生產(chǎn)、測(cè)試等。而對(duì)于設(shè)計(jì)中的某些問題,如產(chǎn)品布局是否合理與美觀、是否符合設(shè)計(jì)規(guī)范等,一般都是人工方法解決,這在一定程度上制約了電子產(chǎn)品的研發(fā)。如果通過計(jì)算機(jī)輔助手段來進(jìn)行分析檢測(cè),將有助于解決這一問題。 本文著重研究了如何從以Protel為例的電子電路CAD設(shè)計(jì)文檔中提取數(shù)據(jù)、如何處理復(fù)雜
2、的電子元器件封裝標(biāo)準(zhǔn),在此基礎(chǔ)上利用OpenGL實(shí)現(xiàn)3D圖形的繪制,完成了電子產(chǎn)品生產(chǎn)前的外觀仿真;同時(shí)研究了Protel設(shè)計(jì)中可能出現(xiàn)的各種非功能性的問題,并針對(duì)相關(guān)問題提出了解決方案。這些研究對(duì)當(dāng)前電子電路CAD技術(shù)起到了補(bǔ)充作用。 從深度和廣度上看,本文的研究在該領(lǐng)域是較為先進(jìn)的。通過采用計(jì)算機(jī)輔助手段,可以進(jìn)一步降低電子產(chǎn)品研發(fā)中的資金投入和時(shí)間花費(fèi),具有很重要的意義。 本文對(duì)3D仿真中的圖形細(xì)節(jié)沒有能夠進(jìn)行更準(zhǔn)
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