基于嵌入式系統(tǒng)ARM9的LCD測試儀研究.pdf

1、隨著大尺寸、彩色、多測量參數(shù)、要求實(shí)時(shí)測量的LCD的出現(xiàn)，特別是點(diǎn)陣式的大尺寸TFT-LCD的量產(chǎn)成功，加了不少新的測試參數(shù)，原有的測試設(shè)備不能滿足新產(chǎn)品測試的要求，要么只能測量電參數(shù)，要么只能測量光參數(shù)；測量LCD的尺寸一般較小，不僅精度和速度達(dá)不到要求，甚至一些參數(shù)就不能測量，因此開發(fā)新一代的測試儀勢在必行。 由于半導(dǎo)體技術(shù)的迅猛發(fā)展給LCD測試儀的研發(fā)提供了硬件條件，新一代32位的嵌入式CPU的出現(xiàn)，如ARM作為一種32位

2、嵌入式系統(tǒng)處理器，以高性能、低功耗、低成本等優(yōu)點(diǎn)占領(lǐng)了大部分市場。隨著32位CPU價(jià)格的不斷下降和開發(fā)環(huán)境的成熟，促使32位嵌入式處理器日益擠壓原先由8位微控制器主導(dǎo)的應(yīng)用空間。因此采用ARM技術(shù)的測試設(shè)備不僅具備很多優(yōu)勢，能夠加快開發(fā)速度，降低開發(fā)成本，能夠?qū)崟r(shí)跟蹤測量；而且可以解決原來測試儀中遇到的瓶頸問題，如測試速度跟不上的問題。 本課題著重從嵌入式LCD測試儀的CPU選取，總體結(jié)構(gòu)，硬件系統(tǒng)設(shè)計(jì)，軟件系統(tǒng)設(shè)計(jì)等方面進(jìn)行探

3、討，重在構(gòu)建一個(gè)開放式軟硬件測試平臺(tái)，為應(yīng)用程序的開發(fā)建立可靠的運(yùn)行環(huán)境，為使用者測試LCD和LCM提供可靠測試工具。 對(duì)嵌入式LCD測試儀系統(tǒng)進(jìn)行需求分析，確定了系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)模型和各部分功能；對(duì)嵌入式LCD測試儀系統(tǒng)的硬件部分進(jìn)行了詳細(xì)規(guī)劃和設(shè)計(jì)并且模塊化，包括嵌入式微處理器及周邊電路，用來測試LCD/LCM的測試信號(hào)產(chǎn)生電路，采集LCD/LCM的光學(xué)信號(hào)的采集系統(tǒng)。小電流的測試是LCD/LCM測試的重點(diǎn)同時(shí)也是難點(diǎn)，在小電流

4、的處理上采用了有效的降噪電路，使得小電流的測試精度大大提高。按照電、光參數(shù)的測試特點(diǎn)，將測試光學(xué)參數(shù)的采集裝置獨(dú)立出來通過USB和測試儀的主體部分相連，采集裝置起到采集光學(xué)量的作用，將采集到的數(shù)據(jù)通過USB送回主體部分處理，這樣既方便又靈活，解決了電、光參數(shù)一體化的問題，使測試儀不僅能測試電參數(shù)同時(shí)也能測試光學(xué)參數(shù)：分析了噪聲產(chǎn)生的機(jī)理和來源，提出了降噪處理的方法和電路，對(duì)提高測試系統(tǒng)的性能起了重要作用；最后研究了嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)RT